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激光诱导击穿光谱

  • 更新时间:2016-04-26
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全新设计的TSI 3000 LIBS工业级元素分析系统可分析从氢(H)到铀(U)的元素,包括那些使用XRF(X射线荧光)和其它方法不能准确分析的轻元素在内

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原理: 高能激光把样品激发为气体, 气体进入分析的光学系统得到低浓度元素含量ppm级别)!

 

提供: 样品表面的二维(X-Y)元素分布和元素的深度(Z)分布.

 

优点: 检测范围广, 不需要样品前处理. 样品是固体就可以.

 

如果你正在使用XRF, AA, ICP, 你就可以考虑这先进的技术. 这就是美国宇航局在火星使用的技术.

 

快速,简单,直接分析: 全新设计的工业级元素分析系统可分析从氢(H)到铀(U)的元素,包括那些使用XRFX射线荧光)和其它方法不能准确分析的轻元素在内。此外,它不需专业的大师级高级技术人员操作它普通的技术员就可快速,简单地对其地进行校准和测量,并生成所需的分析报告。使用LIBS,无需进行一些耗时的样品前处理(如消解等),可以直接对样品进行分析。

技术简介: 该元素系统仪采用基于LIBS(激光诱导击穿光谱)技术的原理。其中高功率激光在待分析材料表面可产生明亮的火花(或等离子体),然后,携带样品信号的光被独特的光谱仪和检测系统检测。元素的荧光直接与待分析材料的元素浓度相关。与其它元素分析的技术相比,LIBS所具有的超强分析性能优势相当明显。特别是,它对材料中存在的绝大多数元素(包括一些其它技术不能检测的重要低原子序数元素如氢和碳)都相当灵敏。由于几乎无需进行样品前处理,从而使分析效率显著提高,大大降低了分析成本。可以同时检测所有元素的浓度,分析时间约20秒,这与其它分析技术相比,具有显著优势。

 

 

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