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台式高清X射线荧光光谱仪

  • 更新时间:2016-09-26
  • 访问次数:1142
  • 价   格:

HD Prime分析仪采用XOS特有的高清晰光谱技术,测量玩具、儿童产品和消费品中的铅以及多种受限重金属元素,符合CPSIA等指令和规范。可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的微量成分,可进行小面积分析,可拍摄样品或分析区域的高分辨率图片

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产品名称:台式高清X射线荧光光谱仪

产品型号:HD Prime

产品产地:美国

 

工作原理:

HD Prime采用XOS的高清晰光谱技术—双弯晶面 (DCC)反射镜,确保了测量的精确性和准确性。多个DCC透镜截获来自X光管的X白光束,并选定几个不同能量的光束,聚焦成很强的束斑,打在被测样品表面。HD光谱分析仪可从低能到高能范围内选择单色激发束,使用户能分别定量分析涂层和基底内有毒元素的成份。HD光谱分析仪采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音,从而大大改善元素探测极限。由于这种技术采用聚焦束激发样品,对于直径为1mm的样品分析面积,其灵敏度远远高于采用准直器来减小束斑的分析仪。

 

仪器应用:

ü  玩具和儿童产品中多种有毒元素测量,符合CPSIA规定的要求

ü  快速准确地定性定量分析有毒元素

ü  使用场合:工厂的生产线上和实验室,第三方检测实验室,零售商,检测部门

ü  符合ASTM F2853和F2617标准

 

仪器性能:

ü  测定有毒元素(Pb,Sb,As,Ba, Cd,Cr,Hg,Se,Br 和 Cl)

ü  HD Prime可分别测出产品涂层和基材中有毒元素的成份

ü  直径为1 mm的小面积分析, 能检测不规则形状样品

ü  使用方便, 可供工厂, 实验室使用, 只需短至2小时的培训

ü  不需要样品前处理: 无须剥离和浸煮涂层, 不破坏产品结构

ü  定性检测模式, 提供有毒元素快速检测

ü  定量检测模式: 精确地测量涂层和基底材料中的元素成分

 

检测极限:

 

LOD in ppm – 3 s

Pb

Cd

Cr

As

Br

Sb

Se

Hg

Ba

Cl

塑料基底

8

2

2

8

1

5

1

1

100

100*

PVC基底

1

2

5

1

1

5

1

2

100

N/A

塑料上涂层

5

10*

15

5

5

15*

5

8

200

150*

金属基底

10

5

30

10

N/A

10

5

10

200

N/A

金属上涂层

8

10*

15

8

5

15*

5

10

200

150*

* 较长的测量时间

 

技术规格:敬请

 

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